TS蓄熱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱

時(shí)間：2016-07-18作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：288

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說明

• 集成電路IC卡高溫測(cè)試

  在集成電路行業(yè)大家想必都知道，集成電路IC卡在出廠之前是需要經(jīng)過高低溫測(cè)試的，來測(cè)試其在高低溫環(huán)境下的性能，集成電路 IC卡在出廠之前，一定要進(jìn)行環(huán)境測(cè)試，以此來對(duì)集成電路在不同工作環(huán)境下的性能進(jìn)行模擬，集成電路高低溫測(cè)試是依靠封裝級(jí)和晶片級(jí)集成電路**高低溫測(cè)試機(jī)，來協(xié)助廠商完成高低溫循環(huán)測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、老化測(cè)試等測(cè)試。芯片的高/低溫度測(cè)試可以在一秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)恒定溫度的快速升降，且精度達(dá)到±1℃

• 所想,由你！結(jié)構(gòu)小巧緊湊的小型快速溫度變化（濕熱）試驗(yàn)箱

  所 想 , 由 你 ！結(jié)構(gòu)小巧緊湊的小型快速溫度變化（濕熱）試驗(yàn)箱針對(duì)半導(dǎo)體及車載電子等電子元器件的試驗(yàn)與研發(fā)需求，labcompanion開發(fā)了較小容量的小型快速溫度變化（濕熱）試驗(yàn)箱，在維持標(biāo)準(zhǔn)快速溫度變化試驗(yàn)箱優(yōu)勢(shì)的同時(shí)，既能滿足對(duì)空間大小有要求的客戶的需求，單相220VAC電壓規(guī)格，又能滿足研究機(jī)構(gòu)、大學(xué)等民用辦公區(qū)客戶的設(shè)備使用需求。主要特征：1、升降溫性能強(qiáng)大升溫速率：15℃/min；

• 高溫試驗(yàn)箱/重慶高溫試驗(yàn)箱/重慶高溫測(cè)試箱/成都高溫試驗(yàn)箱/成都高溫精密烘箱/成都高溫干燥箱/成都恒溫烤箱

  高溫試驗(yàn)箱/重慶高溫試驗(yàn)箱/重慶高溫測(cè)試箱/成都高溫試驗(yàn)箱/成都高溫精密烘箱/成都高溫干燥箱/成都恒溫烤箱 高溫試驗(yàn)箱： 簡(jiǎn)介：本試驗(yàn)箱適用于對(duì)產(chǎn)品（整機(jī)）、零部件、材料等進(jìn)行高溫存貯試驗(yàn)。 型號(hào) WG3002 WG3006 WG301 性能參數(shù) 溫度范圍 RT+20～＋300℃ 溫度波動(dòng)度 ≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示） 溫度均勻度 ≤2℃（RT+20℃～＋200℃）

• 平板電腦可靠度測(cè)試

  平板電腦是一個(gè)具有強(qiáng)大功能的電子產(chǎn)品，隨處可見它的蹤影，但是平板電腦在攜帶使用時(shí)只有簡(jiǎn)易外套保護(hù)或甚至沒有，而且在移動(dòng)的過程當(dāng)中也會(huì)經(jīng)歷到許多環(huán)境物理量的變化(如溫度、濕度、沖擊等)以及自然破壞(如紫外線、太陽光、鹽霧等)，也會(huì)造成人為的非故意傷害或不正常當(dāng)機(jī)及誤動(dòng)作，甚至造成故障與破壞，這些都會(huì)縮短平板電腦的壽命。為了確保產(chǎn)品可靠度以及延長(zhǎng)使用壽命，我們必須對(duì)平板電腦進(jìn)行多項(xiàng)環(huán)境可靠度試驗(yàn)項(xiàng)目。