X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀

時(shí)間：2024-09-25作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：44

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• rohs檢測(cè)儀有哪些技術(shù)指標(biāo)

  RoHS檢測(cè)儀就是歐盟RoHS測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)儀器。簡(jiǎn)單的說(shuō)就是測(cè)試鉛Pb，鎘Cd，汞Hg，六價(jià)鉻Cr6+，多溴二苯醚PBDE，多溴聯(lián)苯PBB六種有害物質(zhì)的儀器。元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)元素含量分析范圍為1PPm到9999%RoHS指令規(guī)定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br) 檢測(cè)限最高達(dá)1PPM;測(cè)量時(shí)間: 60-200秒溫度適應(yīng)范圍為15°C至30°C電源:交流220V+5V (

• X射線熒光光譜儀是什么？

  X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡(jiǎn)稱(chēng)：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫(huà)和壁畫(huà)。 一種射線式

• X射線熒光光譜儀的儀器類(lèi)別及特點(diǎn)

  X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數(shù) 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時(shí)受基體的影響小，在地質(zhì)、采礦和冶金等部門(mén)應(yīng)用很廣。X射線熒光光譜儀：儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計(jì)。?指標(biāo)信息1、發(fā)射源是Rh靶X光管，最大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作，真空度<13pasca

• X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀

  X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀既滿(mǎn)足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測(cè)功能,又可滿(mǎn)足有害元素檢測(cè)及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量。X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀配置01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測(cè)器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)05 Fast-SDD探測(cè)器06 雙激光定位裝置07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直