詞條
詞條說(shuō)明
一. 磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀*磁鐵(測(cè)頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系,這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測(cè)厚儀,只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用較廣。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,接力簧,標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后,將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng),拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸
手持式光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成,其特點(diǎn)是具有高的分辨率和信噪比,形狀小巧,可快速檢測(cè)分析出產(chǎn)品屬性,以數(shù)字或者趨勢(shì)圖展示,是很方便的一種儀器儀表工具。手持式光譜儀的應(yīng)用領(lǐng)域主要有:電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航空航天、地質(zhì)勘探、礦山測(cè)繪、開(kāi)采、礦石分選、礦
在被測(cè)量的薄膜上垂直照射可視光,光的一部分在膜的表面反射,另一部分透進(jìn)薄膜,然后在膜與底層之間的界面反射,薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。利用白光干涉測(cè)量法的原理,它用一個(gè)寬波段的光源來(lái)測(cè)得不同波長(zhǎng)的反射數(shù)據(jù),由于反射率n和k隨薄膜的不同而變化,根據(jù)這一特性進(jìn)行曲線擬合從而求得膜厚。不同類(lèi)型材料的相應(yīng)參數(shù)通過(guò)不同的模型來(lái)描述,從而保證了不同類(lèi)型材料膜厚測(cè)量的準(zhǔn)確性。
手持重金屬光譜儀技術(shù)參數(shù):1、分析方法:能量色散X熒光分析方法2、測(cè)量元素范圍:原子序數(shù)為12~92【鎂(Mg)到鈾(U)】之間70種元素均可測(cè)量3、檢測(cè)元素:主要測(cè)試項(xiàng)目是GB 15618-1995土壤環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的鉛、砷、鉻、銅、鎳、鋅、釩、錳、鈷等元素,其準(zhǔn)確度合格率需符合(按《全國(guó)土壤污染狀況調(diào)查質(zhì)量保證技術(shù)規(guī)定》判定),可根據(jù)用戶(hù)需求定制增加檢測(cè)元素4、微電腦系統(tǒng):工業(yè)定制級(jí)Win
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