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宿遷火花直讀光譜儀價格


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    XRF 膜厚儀,全稱為 X 射線熒光膜厚儀。以下是關(guān)于它的詳細介紹:一、工作原理XRF 膜厚儀利用 X 射線熒光技術(shù)來測量薄膜的厚度。當(dāng) X 射線照射到樣品上時,樣品中的原子會吸收 X 射線并發(fā)射出特定能量的熒光 X 射線。不同元素發(fā)射的熒光 X 射線具有不同的能量特征,通過檢測這些熒光 X 射線的能量和強度,可以確定樣品中所含元素的種類和含量。對于薄膜樣品,XRF 膜厚儀可以根據(jù)薄膜中元素的熒光

  • 宿遷等離子體發(fā)射光譜儀ICP

    江蘇天瑞儀器股份有限公司作為一家從事光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀等分析測試儀器的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高科技企業(yè),致力于為客戶提供的分析儀器和解決方案。在公司旗下的產(chǎn)品線中,等離子體發(fā)射光譜儀ICP(Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry)是備受關(guān)注和廣泛應(yīng)用的一款重要產(chǎn)品。ICP-OES作為一種利用電感耦合等離子體作為激發(fā)光源的光學(xué)

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